2026未来测试技术发展学术会议将同步开展专题论文征集工作，将择优在《电子测量技术》以专题形式进行发表。专题名为：“人工智能赋能未来电子测试技术”。本专题特邀桂林电子科技大学许川佩教授担任主编，桂林电子科技大学胡聪担任副主编，组织高质量学术论文，为科研人员、工程师及相关从业者提供学术交流与知识共享的平台，计划于2026年10月出版。 

测试技术是支撑高端制造、人工智能、航空航天、集成电路、量子科技、生物医药等前沿领域发展的基础性、先导性技术，正深度融入国家“十五五”科技创新体系。作为连接科学研究、工程实现与产业应用的关键纽带，测试技术在夯实科技创新基础、保障制造质量、破解产业短板、驱动智能化转型中发挥重要作用，其创新突破对构建现代化产业体系、保障产业链供应链安全、发展新质生产力具有重大意义。

一、征稿范围（但不局限于）：

n 智能仪器与嵌入式AI测量；

n 智能测试系统与故障诊断；

n 智能信号处理与机器学习算法；

n 智能制造与工业互联网测试；

n AI硬件测试与验证；

n 未来通信测试；

n 硬件安全与可信测试；

n 量子精密测量技术；

n 人工智能时代的计量与标准化。

二、论文要求

（1）内容要求：未在国内外刊物或会议上公开发表，达到国内外先进水平，内容丰富，对同行有很高参考价值。（参见本刊官网下载专区的投稿须知）

（2）格式要求：word排版，符合《电子测量技术》中文版格式要求。（参见本刊官网下载专区投稿须知中的论文模板）

三、论文提交

请通过《电子测量技术》http://emt.etmchina.com网站上的投稿系统进行在线投稿。

四、特别提示

在投稿系统的拟投拦目中选择：“人工智能赋能未来电子测试技术”专栏，编辑部将为本栏目约请稿件开通绿色通道，加急送审和处理流程，保障论文时效性。

投稿截止日期：2026年7月31日（逾期投稿的论文将视评审情况安排至第二期发表）

联系人：仝琳琳

Tel：010-53389229

E-mail：dzcl@vip.163.com

感谢您对《电子测量技术》的热心关注与鼎力支持！

希望领域内的专家学者积极投稿！

 电子测量技术

                                      2026年4月9日